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开发板入门教程V1.0
国云ESP8266开发板入门教程 版本号：V1.1 作者：冰点 第一章：SDK开发者入门指南 步骤一：Windows下安装开发环境 1.1 从百度云盘下载对应的CYGWIN压缩包，我们已经打包好环境，直接解压到任意盘即可。PS：32位系统就选择32位，64位系统就选择64位。 1.2 解压之后会看到Cygwin.bat这个文件，右键编辑，把路径改成你当前解压的盘就可以了，我的在E盘，如果你解压在C盘的话，就改成C盘。
第二步：MAKE编译 2.1打开Cygwin.Bat 2.2进入goouuuSDK/app文件夹
2.3 按make，回车，开始编译！ 2.4 编译完成后会在firmvare文件夹里生成两个bin文件。
步骤三：安装CH340USB转串口驱动。将开发板的USB线连接到电脑的USB口，正确安装CH340驱动。 步骤四：将编译生成的两个bin文件烧录到开发板中。 4.1 我们从8266新手进阶文档中知道，进入程序烧录模式，在通电前必须将GPIO15和GPIO0拉低，GPIO2拉高，也就是模式三。从我们的底板原理图上可以看到GPIO15接在K1上，GPIO0接在K2上。所以在通电前要将K1拨到ON（接地），将K2拨到ON（接地），然后按下自锁开关，电源启动。 4.2 打开下载的XTCOM软件，用它烧录bin文件
4.3 打开tools，Config Device，选择你的串口，波特率115200，然后点击open，然后点击content，提示连接成功。 4.4 点击FLASH DOWNLOAD。把0x00000bin文件传进去，地址偏移为0，然后点击download，把第一个烧录到FALSH里，提示成功。
iTOP-4418开发板平台的组装及初体验
iTOP-4418开发板平台组装及初体验 2.1开发板组装 2.1.1 Console串口 使用串口线将开发板的COM3连接到PC的串口，如果PC或者笔记本没有串口，需要自行准备USB转串口的设备。 注意：插拔串口时，一定要断电，避免带电插拔造成设备损坏。PC上串口的操作软件请参考“3.1超级终端的安装与使用”。 iTOP-4418开发板引出两个串口，其中CON3作为系统的调试串口，如下图所示： 2.1.2 屏幕连接 从外观上看，开发板有两个HDMI接口，但是只有一个可以接HDMI显示器，如下图所示：
较大的HDMI-A接口（上图红框内的接口）只能接讯威提供的7寸屏或者9.7寸屏，自带5V（或者3.3V）供电，切不可接HDMI显示器。使用讯威提供的HDMI线是万无一失的，不会接错。在用户没有搞懂信号之前，请勿擅自使用您购买的HDMI线！较小的HDMI（上图棕色框内的接口）是标准的HDMI-C接口（不是国际标准，但很多电器设备都有用，是日本SONY公司定义的HDMI接口，具体可以百度搜索），建议使用我们的C转A HDMI线连接。iTOP-4418全能版除了使用HDMI线连接屏幕外，还可以通过我们平时用的软排线连接，底板上的软排线就是和绿框内的端子连接的。 2.2.2.1 电容屏连接（7寸屏和9.7寸屏） iTOP-4418一体机版本可以支持7寸或者9.7寸电容屏，如图所示，可以使用LVDS-LCD接口，也可以使用软排线连接。软排线有金属触点的一面朝下。
ATMEGA128–AVR教程
AVR教程（一）：AVR单片机简介 作者： 微雪电子 文章来源：， 点击数：478 更新时间：2008-4-1 23:58:21 AVR，它起源于：1997年，ATMEL公司挪威设计中心的A先生和V先生，采用ATMEL公司的新型Flash技术，共同开发了采用RISC精简指令集的高速8位单片机，简称AVR。 AVR单片机的特点 每种单片机都有自己的优缺点，和其它8位单片机相比，AVR 8位单片机最大的特点是： ●哈佛结构，拥有1MIPS/MHz的高速处理能力； ●功能超强的精简指令集（RISC），拥有32个通用工作寄存器，克服了8051单片机采用单个ACC带来的瓶颈现象； ●快速访问寄存器组和单周期指令系统，大大优化了目标代码的大小和执行效率，部分型号的FLASH很大，特别适合用高级语言进行开发； ●作为输出时和PIC的HI/LOW一样，可输出40mA（单路输出），作为输入时可设置为三态高阻输入或者带上拉电阻的输入，具有灌10mA-20mA电流的能力； ●芯片内部集成了多种频率RC振荡器、上电自动复位、看门狗、启动延时等功能，使得外围电路更加简单，系统更加稳定可靠； ●大部分AVR都有丰富的片上资源：E2PROM、PWM、RTC、SPI、UART、TWI、ISP、AD、模拟比较器、WDT等； ●大部分AVR除了具备ISP功能外，还具备IAP功能，方便升级或者销毁应用程序。 ●性价比高。 开发AVR单片机需要哪些编译器和调试器？ 软件名称 类型 介绍 官方网站 AVR Studio IDE、汇编编译器 ATMEL AVR Studio集成开发环境（IDE），可以用汇编语言进行开发（其他语言需第三方软件协助），集软硬件仿真、调试、下载编程于一体。ATMEL官方及市面上常见的AVR开发工具均支持AVRStudio、GCCAVR（WinAVR） C编译器 GCC是Linux下唯一的开发语言，GCC的编译器优化水平可以说是全球民用软件中最好的，另外它还有一个非常大的优势就是免费！在国外，用它的人几乎是最多的。但是相对来说，它的缺点就是，
Atmega128 开发板用户手册
Atmega128开发板用户手册摘要 Atmega128开发板硬件资源丰富，接口齐全，基本涵盖了Atmega128单片机所能涉及到的所有功能，可以满足单片机开发工程师、电子爱好者的开发实验需求，或者电子、计算机专业院校学生的学习实验。按照正规产品的要求设计，而不仅仅是实验样品。在器件选型、原理图、PCB设计时充分考虑可靠性、稳定性。 Atmega128拥有丰富的IO口资源，板上所有接口均独立使用，不需要任何跳线进行设置。IO口外设扩展使用了两颗锁存器74HC574，可以使实验更加简单方便，让实验者掌握更多的单片机设计知识。 提供配套的软件源代码，学习板上每个实验都有对应的软件代码，都是版主从多年的工作经验中提炼并优化而成，有很高的参考价值。 编程简单，学习板编程不需要专用的烧录器。 可使用计算机并行口进行编程，操作快捷、简单。
1.产品清单 Atmega128开发板配件清单如下，首次收到产品时请参考下图仔细检查包装内的配件是否齐全完好，请按照下图安装122*32的LCD，将IC的一个引脚与122*32 LCD插座的另一个引脚对齐，切记不要插反。
2、硬件布局说明步进电机接口直流电机接口数字温度传感器SD卡插座光敏电阻ADC输入电位器NTC热敏电阻JTAG接口继电器接口9V电源输入接口DAC输出接口RS485接口RS232接口红外发射器ISP编程接口液晶对比度调节电位器122*32点阵液晶接口16*2字符液晶接口红外接收器433M射频模块接口3*4矩阵键盘
Mega128 保险丝位摘要
附录A ATmega128熔丝位总结 编程和状态说明： 在AVR器件手册中，熔丝位的状态定义为已编程（Programmed）和未编程（Unprogrammed）。 “Unprogrammed”表示熔丝状态为“1”（禁止）； “Programmed”表示熔丝状态为“0”（允许） 1：未编程（复选框未勾选） 0：已编程（复选框勾选） AVR的熔丝位可以多次编程，而不是OPT熔丝。 熔丝位的配置（编程）可以通过并行模式、ISP串行模式、JTAG串行模式实现。 AVR芯片加密锁定（LB2/LB1 = 1/0,0/0）后，用任何方法都无法读取芯片内部Flash和E2PROM中的数据，但是仍然可以读取熔丝位的状态，但不能修改配置。 芯片擦除命令会清除Flash和E2PROM内的数据，同时将两个锁定位的状态配置为解锁状态（LB2/LB1 = 1/1）。但是芯片擦除命令不会改变其他熔丝位的状态。下载编程的正确操作流程是：在芯片解锁的状态下，下载运行代码和数据，配置相关熔丝位，最后配置芯片的加密锁定位。芯片加密锁定后，如果发现熔丝位配置不正确，必须使用芯片擦除命令清除芯片内的数据，解除加密锁定。
然后重新下载运行代码和数据，修改配置相关的保险丝位，最后重新配置芯片的加密锁位。 1.芯片加密锁熔丝 加密锁位 加密锁模式 LB2 LB1 保护类型（针对芯片加密） 1（默认） 1 1 无编程加密锁保护 2 1 0 禁止串/并模式对 Flash 和 E2PROM 重新编程 禁止串/并模式对熔丝位进行编程 3 0 0 禁止串/并模式对 Flash 和 E2PROM 重新编程和验证 禁止串/并模式对熔丝位进行编程 注意：只有使用芯片擦除命令才能将加密锁熔丝恢复为默认状态，没有任何加密锁保护 2.功能 熔丝描述 熔丝名称 1 0 默认 M103C ATmega128 工作模式 ATmega103 兼容模式 0 WDTON 软件控制看门狗 看门狗一直工作，软件只能调整溢出时间 1 SPIEN 禁用 ISP 串行编程 启用 ISP 串行编程 0 JTAGEN 禁用 JTAG 端口 启用 JTAG 端口 0 EESAVE 擦除芯片时不保留 E2PROM 数据 保留芯片擦除时 E2PROM 的数据 1 BODEN 关闭低压检测功能 开启低压检测功能 1 BODLEVEL 低压检测阈值电平 2.7V 低压检测阈值电平 4.0V 1 OCDEN 关闭 JTAG 口在线调试功能 关闭 JTAG 口在线调试功能 1
OneNET Kirin开发板V1.0硬件用户手册
OneNET Kirin 开发板 V1.0 硬件用户手册 V1.1 2016年4月13日
目录 OneNET Kylin 开发板 V1.0 硬件用户手册 (1) 第一章 OneNET Kylin 开发板介绍 (4) 1.1 MCU 介绍 (4) 1.2 开发板功能介绍 (5) 1.3 开发板配置 (7) 第二章 硬件资源 (8) 2.1 硬件连接各配件实物图 (8) 2.2 硬件尺寸图 (10) 2.3 Bom 表 (12) 相关资料 (15)
第1章 OneNET麒麟开发板介绍为了满足广大物联网用户的需求，帮助大家对接OneNET开放云平台，我们开发了采用底板+核心板结构的开发板，这样可以方便的更换开发板上的MCU类型。开发板的MCU采用了目前广泛使用的STM32F103和STC12LE5A60S2，可以互换使用。 开发板还包含GPRS模块、WIFI模块、传感器模块等。1.1 MCU介绍1.1.1 STM32F103介绍STM32F103xx增强系列采用高性能ARM Cortex-M3 32位RISC内核，工作频率72MHz，内置高速存储器（最大128K字节的闪存和20K字节的SRAM），丰富的增强I/O口以及连接两路APB总线的外设。所有设备型号都包含两个12位ADC，三个通用16位定时器和一个PWM定时器，以及标准和高级通信接口：最多两个I2C和SPI，三个USART，一个USB和一个CAN。 STM32F103xx增强型系列工作温度范围为-40℃至+105℃，供电电压为2.0V至3.6V，并设有一系列省电模式，保证低功耗应用的要求。完整的STM32F103xx增强型系列包括从36脚到100脚五种不同的封装；根据封装的不同，器件内的外设配置也不同。注：关于STM32F103更多详细信息，请查阅相关Datasheet。1.1.2 STC12LE5A60S2简介在众多的51系列MCU中，国产STC公司的1T增强型系列比较有竞争力，因为它不仅完全兼容8051的指令和引脚，而且片上带有大容量的程序存储器，采用FLASH技术制作而成，例如STC12C5A60S2这款MCU就内置了60K的FLASHROM。 这种存储器可以用电瞬间擦除和重写。此外，STC系列单片机支持串行
ATmega128的几个常用程序例子
ATMEGA128相关例程学习avr单片机有一段时间了，最开始用的是atmega128，但是觉得不太好用，于是买了一个16L的芯片，觉得还可以。最开始用的是ICC AVR，因为比较容易使用，不像winavr那样需要写Makefile，比较麻烦，但是icc avr的缺点就是太过简单，在调试程序的时候感觉不太好用。后来同学介绍了winavr，也比较简单，就是需要加一个makefile而已，其实makefile是可以通过软件自带的组件自动生成的，只需要修改几个参数就可以使用了。后来用了code vision avr，虽然不太习惯，但是用起来还不错。需要注意的是三个不同的软件同样的文件是不一样的。 icc avr是iom128v.h(我们就以128为例吧)，winavr是avr/io.h，但是在makefile中要将芯片设置为atmega128。而cvavr是mega128.h。记得一开始对这些不同的文件也不是很了解，后来跟一位学长学习了一下才明白。其实前两个软件只要稍微改一下头文件，基本就能通用，最后一个软件好像中断的写法不一样，所以和前面两个软件的兼容性最差。总的来说winavr给人比较专业的感觉。自己学习的时候再多总结吧！ 1、流光 /*硬件环境：atmega128开发板 软件环境：CodeVisionAVR-C */ #include #define uchar unsigned char #define uint unsigned int uchart; void timer1_init() { TCCR1B=0X00; //先停止定时器1 TCNT1H=0XF0; //设置定时器初值 TCNT1L=0XBE; TCCR1A=0X00; //启动定时器1 TCCR1B=0X05; //使用1024分频} 中断[TIM1_OVF] void timer1_ovf_isr(void) { TCNT1H=0XF0; //重新载入定时器初值 TCNT1L=0XBE;
储罐底部漏磁检测综述
1.3 罐底板漏磁检测方法、应用及发展趋势 磁现象是人们最早认识的物理现象之一。我国春秋战国时期就用司南作为测磁仪器，东汉时期就开始研究磁化技术，北宋沈括的《梦溪笔谈》对磁化技术有详细的介绍。国外很早就对漏磁检测技术进行了研究。利用磁粉探伤技术的设想最早是由美国人霍克于1922年提出的。由于当时缺乏磁化技术和合格的磁粉，这一伟大的设想未能实现。1933年，楚施卢格[5]首次提出用磁传感器测量漏磁场的设想，但并未受到重视。1947年，哈斯廷斯设计出第一套完整的漏磁检测系统，漏磁检测开始得到广泛的认可。1950年，西德福斯特研制出商品化的漏磁检测装置。 用于焊缝及管、棒的探伤。磁化方法采用剩磁法。1965年美国TubecopeVetco International公司采用漏磁检测装置Linalog首次进行了管内检测，并研制出Wellcheck井口检测系统，能可靠地检测出管道内外径上的腐蚀坑、横向伤痕等类型缺陷。漏磁检测结果具有良好的定量性、客观性和可记录性，不仅适用于钢筋、钢管成品的检验，也适用于表面粗糙的钢坯等中间产品的探伤。但一般情况下，漏磁检测只适用于形状比较规则的工件。
1973年英国天然气公司采用漏磁法对其管辖的一条直径600 mm天然气管道管壁腐蚀减薄情况进行在役检测，并首次引入了定量分析方法。ICO公司的EMI漏磁探伤系统通过漏磁探伤部位检测管体横向和纵向缺陷，壁厚测量与超声波技术相结合，提供完整的现场探伤。1976年加拿大诺兰达矿业公司的Krank KitZinger等人[25]首次采用霍尔元件作为磁敏感元件，由永磁体组成的轴向磁轭对钢管进行轴向磁化。英国银翼公司相继推出了多种储罐、管道漏磁检测系统，如FLOORMAP2000储罐底板检查系统，该系统通过便携式计算机将所有检测数据以图形化、直观的方式显示出来。 它能检测出底板上深度为罐板厚度40%的人工缺陷（锥形孔或弧形凹坑），也能检测出6mm厚板上深度为罐板厚度20%左右的腐蚀。缺陷漏磁场的计算始于1966年，谢尔比宁和扎特塞平利用磁偶极子模型计算了表面张开的无限长裂纹。同年，前苏联也发表了第一篇定量分析缺陷漏磁场的论文，提出用磁偶极子、无限长磁偶极子线和无限长磁偶极子条来模拟工件表面的点缺陷、浅裂纹和深裂纹。
随后，苏联、美国、德国、日本、英国等国家相继开展了该领域的研究，形成了两大流派，主要研究磁偶极子法和有限元法。Shcherbinnin和Poshagin利用磁偶极子模型计算了有限长度表面开口裂纹的磁场分布。1975年，Hwang和Lord采用有限元法对漏磁场进行了分析，首次将材料内部场强度、磁导率与漏磁场幅度联系起来。Atherton[6][7]将管壁凹坑状缺陷的漏磁场计算与实验测量结果联系起来，得到了比较一致的结论。 Edwards和Palaer[5]对有限长度开口裂纹引入了三维表达式，由此得出当材料的相对磁导率远大于缺陷深宽比时，漏磁场强度与缺陷深度近似成线性关系。此外，2009年，美国Rice大学的Sushant M.Dutta和Fathi H.Ghorbel等人[95-96]建立了磁偶极子模型，模拟分析了缺陷的三维漏磁场分布；我国从20世纪90年代初就开始了漏磁场检测技术的研究。在国内理论研究方面，钟伟昌[10]利用磁偶极子模型，研究了有限和无限长度磁偶极子的漏磁场分布，解释了缺陷处漏磁场的特征。2002年研制出管道及钢板腐蚀漏磁场探测器[8]，其整体技术水平落后于欧美等发达国家。 近年来，在广大无损检测工作者的辛勤努力和协作下，许多高校和科研机构取得了丰硕的成果，逐步缩小了与国际水平的差距。
Mega128 示例
1.流光 /*硬件环境：atmega128开发板 软件环境：CodeVisionA VR-C */ #include #define uchar unsigned char #define uint unsigned int uchar cnt; void timer1_init() { TCCR1B=0X00; //先停止定时器1 TCNT1H=0XF0; //设置定时器初值 TCNT1L=0XBE; TCCR1A=0X00; //启动定时器1 TCCR1B=0X05; //使用1024分频 } 中断 [TIM1_OVF] void timer1_ovf_isr(void) { TCNT1H=0XF0; //重新载入定时器初值 TCNT1L=0XBE; DDRE|=1
